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時(shí)域熱反射測量系統(tǒng)(TDTR)的典型光路介紹

更新時(shí)間:2024-08-01 點(diǎn)擊次數(shù):823

時(shí)域熱反射測量系統(tǒng)(TDTR)的典型光路介紹


時(shí)域熱反射技術(shù)(TDTR)是一種高精度、高時(shí)間分辨率的熱物性測量技術(shù),主要用于研究各種材料的熱物性,包括單層膜、多層膜、液體材料的熱導(dǎo)率、熱容,以及固-固材料界面、固-液材料界面,微結(jié)構(gòu)界面熱導(dǎo);及各種微結(jié)構(gòu)熱物性等,從而幫助科研人員更好地理解材料的熱傳輸特性。本文主要對飛秒激光時(shí)域熱反射測量系統(tǒng)(TDTR)的典型光路即組成進(jìn)行了介紹。


1,泵浦探測技術(shù)


泵浦-探測技術(shù)(Pump-Probe Technique)是一種時(shí)間分辨光譜技術(shù),廣泛用于研究材料的電子、振動(dòng)和光學(xué)性質(zhì)。這項(xiàng)技術(shù)通過精確控制時(shí)間,可以捕捉材料在不同時(shí)間點(diǎn)的動(dòng)態(tài)變化,因此在納米材料的熱傳輸和能量轉(zhuǎn)移研究中尤為重要。


基于泵浦-探測技術(shù),發(fā)展出了一系列實(shí)驗(yàn)技術(shù),如瞬態(tài)熱反射(Transient Thermo-reflectance, TTR)、時(shí)域熱反射(Time-Domain Thermo-reflectance, TDTR)、頻域熱反射(Frequency-Domain Thermo-reflectance, FDTR)和熱透射顯微鏡(Photothermal Microscopy)。這些技術(shù)各有特點(diǎn),適用于不同的研究場景。

 

2,時(shí)域熱反射技術(shù)(TDTR)


時(shí)域熱反射技術(shù)(TDTR)是一種高精度、高時(shí)間分辨率的光熱技術(shù),用于測量材料的熱物性參數(shù),如熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率和界面熱阻。


時(shí)域熱反射技術(shù)(TDTR)基本原理如下:


①泵浦脈沖加熱:首先,一個(gè)強(qiáng)激光脈沖(泵浦脈沖)照射到材料表面,瞬間加熱樣品。這種加熱過程非常短暫,通常在皮秒(ps,10^-12秒)量級。通常情況下,樣品表面會(huì)鍍上一層薄金屬膜作為傳感器,當(dāng)溫度升高時(shí),金屬膜的反射率會(huì)發(fā)生線性變化。


②探測脈沖測量:然后,一個(gè)弱激光脈沖(探測脈沖)在不同時(shí)間延遲下照射同一位置,測量探測脈沖的反射光強(qiáng)度,以獲取材料反射率的變化。


③數(shù)據(jù)分析:通過分析反射率變化曲線,結(jié)合熱傳型進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合,從而提取樣品的熱導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率、熱容、界面熱阻(界面熱導(dǎo))等參數(shù)。


3,時(shí)域熱反射技術(shù)(TDTR)的典型光路圖


如下以昊遠(yuǎn)精測的Pioneer-ONE:飛秒激光時(shí)域熱反射測量系統(tǒng)為例介紹TDTR系統(tǒng)的典型光路:



圖(1)雙波長熱反射泵浦探測系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖

 

Pioneer-ONE TDTR時(shí)域熱反射系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)如圖(1)所示,其核心部分是一臺(tái)飛秒光纖激光器,該激光器提供系統(tǒng)的輸入光源,波長為1064nm,脈沖寬度為100 fs,重復(fù)頻率為80 MHz,發(fā)出的是線偏振光。為了防止背反射導(dǎo)致系統(tǒng)不穩(wěn)定或激光器損壞,激光首先通過一個(gè)光隔離器(optical isolator)。


接下來,激光通過一個(gè)由1/2波片(1/2 Waveplate)和偏振分束器(Polarizing beam splitter)組成的分光結(jié)構(gòu),分為兩束:泵浦激光和探測激光。1/2 波片可以用來調(diào)節(jié)泵浦探測兩路的分光比例。


泵浦激光路徑:


①泵浦激光經(jīng)過一臺(tái)美國Conoptics公司的電光調(diào)制器(Electro-Optic Modulator, EOM),其強(qiáng)度被加載ωr頻率的調(diào)制,ωr同時(shí)也作為鎖相放大器的參考信號(hào)使用。


②泵浦激光隨后經(jīng)過BBO晶體進(jìn)行倍頻,經(jīng)過晶體之后,激光變成了包含1064nm(基頻成分)+532nm(倍頻成分)的雙色光。


③經(jīng)過倍頻晶體的激光經(jīng)過冷光鏡(Cold Mirror)濾波,基頻光被基本濾除。Red filter進(jìn)一步濾除泵浦激光中的基頻光,減少其對探測信號(hào)的影響。


 

探測激光路徑:


①探測激光首先經(jīng)過延遲平臺(tái)(delay Stage),控制光程,以調(diào)節(jié)泵浦脈沖和探測脈沖到達(dá)樣品表面的時(shí)間間隔。延遲平臺(tái)的步進(jìn)精度決定了測量的時(shí)間分辨率(在其不小于脈寬的情況下),行程決定了可測量的總延遲量(在其不大于脈沖間隔的情況下)。


②為減少光束發(fā)散的影響,在探測激光經(jīng)過延遲平臺(tái)前,使用擴(kuò)束裝置(beam expander)放大光束,減少發(fā)散角。

 

合束及檢測:


①處理后的泵浦激光和探測激光通過冷光鏡(Cold Mirror)合束,并通過一個(gè)光學(xué)物鏡共同聚焦在樣品表面。


②探測激光在樣品表面反射后,通過偏振分束器和四分之一波片(1/4 Waveplate)進(jìn)行分離。探測激光在延遲平臺(tái)后為水平偏振方向,通過偏振分束器,到達(dá)樣品前后經(jīng)過四分之一波片,偏振方向由水平變?yōu)樨Q直,在返回至偏振分束器時(shí)被wan反射。


③由于探測激光信號(hào)非常微弱,少量泵浦激光到達(dá)光電探測器會(huì)嚴(yán)重影響測量結(jié)果。因此,在光電探測器前放置藍(lán)光濾光片(Blue Filter),對波長為532nm的泵浦光進(jìn)行再次濾波,有效去除其對探測光的干擾。


④反射出來的探測激光經(jīng)過焦距為300 mm的平凸透鏡聚焦在另一個(gè)光電探測器的光敏面上,該探測器與鎖相放大器相連,用于采集實(shí)驗(yàn)信號(hào)。

⑤另外,通過鋁膜反射鏡將光線反射至ccd相機(jī),可以觀察樣品表面的質(zhì)量以及泵浦激光和探測激光光斑的重合程度。

 

如上就是Pioneer-ONE TDTR采用的雙色激探測方案,此方案能更好去除泵浦光對探測光信號(hào)的干擾,以實(shí)現(xiàn)更高的信噪比和抗干擾性。采集到的方案經(jīng)過昊遠(yuǎn)精測專業(yè)熱傳導(dǎo)分析軟件平臺(tái)Thermo-Mind進(jìn)行建模分析,就能夠得到樣品的相關(guān)熱物性參數(shù)了。

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